I. Physikalisches Institut der JLU Giessen
Forschung 
 
Arbeitsgebiete 
Publikationen 
Instrumente 
& Methoden 
Werkstätten 
Lehre 
 
Promotionen 
Diplomarbeiten 
 Vorlesungen 
Seminare 
F-Praktikum 
Phys. Kolloquium 
Dienstleistung 
 
Zentrum für 
Festkörper-Analytik 
Weltraum- 
Simulationskammer 
Oberflächenanalytik 
Charakterisierung 
Für Schüler 
 
Physik im Blick 
Girlīs Day  
Schulpraktikum 
Projektwoche 
Ausbildung 
Nützliches 
 
Kontakt 
Lageplan 
Personal 
Institutsgeschichte 
Intern  
Downloads 

Die elektrische Charakterisierung der Proben, ob Kristalle oder dünne Schichten, erfolgt durch die vorhandene Hall-Messapparatur. Dabei kann durch diese Art von Messung zum einen die elektrische Leitfähigkeit und zum anderen die Ladungsträgerdichte bestimmt werden. Mit dem Messaufbau zur Kapazitäts-Spannungs-Spektroskopie (CV) steht eine zweite Möglichkeit zur Verfügung, die Ladungsträgerkonzentration und den Ladungsträgertyp einer Probe zu bestimmen.

Apparativer Aufbau

  • Für die Hall-Messung steht ein Elektromagnet mit einem Magnetfeld mit 1 Tesla Flussdichte zur Verfügung. Der He-Kryostat ermöglicht eine Regelung des Temperaturbereichs von 4.2 K bis 500 K. Die Messelektronik besteht aus einer Konstantstromquellen, die einen Strombereich zwischen 0.1 nA und 100 mA ermöglicht. Um ein möglichst gutes Signal-Rauschverhältnis zu erhalten, sind die Messleitungen in Guard-Technik bestehend aus Triaxialkabeln ausgelegt. Die Messdatenerfassung und die Ermittlung der resultierenden Größen erfolgt mit Hilfe eines auf LABVIEW basierenden Programms.

  • Der für die CV-Messung verwendete Keithley 590 CV Analyzer ist als Erweiterung zur Hall-Messelektronik konzipiert. Die zur Vorcharakterisierung notwendige U-I Messung kann daher mit den Messgeräten der Hall-Aparatur durchgeführt werden.